波長(zhǎng)為λ的X射線(xiàn)，投射到晶體常數(shù)為d的晶體上，取k=0，2，3，…，出現(xiàn)X射線(xiàn)衍射加強(qiáng)的衍射角θ（衍射的X射線(xiàn)與晶面的夾角）滿(mǎn)足的公式為：（）

如果兩個(gè)偏振片堆疊在一起，且偏振化方向之間夾角呈60°，假設(shè)二者對(duì)光無(wú)吸收，光強(qiáng)為I的自然光垂直入射在偏振片上，則出射光強(qiáng)為：（）

波長(zhǎng)為λ的單色平行光垂直入射到薄膜上，已知n1>n3，如圖所示。則從薄膜上、下兩表面反射的光束①與②的光程差是：（）

用波長(zhǎng)為λ的單色光垂直照射到空氣劈尖上，從反射光中觀察干涉條紋，距頂點(diǎn)為L(zhǎng)處是暗條紋。使劈尖角θ連續(xù)變大，直到該點(diǎn)處再次出現(xiàn)暗條紋為止（見(jiàn)圖）。則劈尖角的改變量△θ是：（）

一單色光垂直照射在空氣劈尖上，當(dāng)劈尖的劈角增大時(shí)，各級(jí)干涉條紋將有下列中的何種變化？（）

用劈尖干涉法可檢測(cè)工件表面缺陷，當(dāng)波長(zhǎng)為λ的單色平行光垂直入射時(shí)，若觀察到的干涉條紋如圖所示，每一條紋彎曲部分的頂點(diǎn)恰好與其左邊條紋的直線(xiàn)部分的連線(xiàn)相切，則工件表面與條紋彎曲處對(duì)應(yīng)的部分應(yīng)：（）

在單縫夫瑯和費(fèi)衍射實(shí)驗(yàn)中，若將縫寬縮小一半，則原來(lái)第三級(jí)暗紋處將出現(xiàn)的條紋是：（）

用白光光源進(jìn)行雙縫干涉實(shí)驗(yàn)，若用一個(gè)純紅色的濾光片遮蓋住一條縫，用一個(gè)純藍(lán)色的濾光片遮蓋住另一條縫，則將發(fā)生何種干涉條紋現(xiàn)象？（）

真空中波長(zhǎng)為λ的單色光，在折射率為n的均勻透明媒質(zhì)中，從A點(diǎn)沿某一路徑傳播到B點(diǎn)。設(shè)路徑的長(zhǎng)度為ι，A、B兩點(diǎn)光振動(dòng)相位差記為△φ，則ι和△φ的值分別為：（）

一束自然光從空氣投射到玻璃表面上（空氣折射率為1），當(dāng)折射角為30°時(shí)，反射光是完全偏振光，則此玻璃板的折射率等于：（）