在單縫夫瑯和費衍射實驗中，若將縫寬縮小一半，則原來第三級暗紋處將出現(xiàn)的條紋是：（）

用波長為λ的單色光垂直照射到空氣劈尖上，從反射光中觀察干涉條紋，距頂點為L處是暗條紋。使劈尖角θ連續(xù)變大，直到該點處再次出現(xiàn)暗條紋為止（見圖）。則劈尖角的改變量△θ是：（）

用劈尖干涉法可檢測工件表面缺陷，當波長為λ的單色平行光垂直入射時，若觀察到的干涉條紋如圖所示，每一條紋彎曲部分的頂點恰好與其左邊條紋的直線部分的連線相切，則工件表面與條紋彎曲處對應的部分應：（）

波長為λ的X射線，投射到晶體常數(shù)為d的晶體上，取k=0，2，3，…，出現(xiàn)X射線衍射加強的衍射角θ（衍射的X射線與晶面的夾角）滿足的公式為：（）

在雙縫裝置實驗中，對于給定的入射單色光，當雙縫間距增大時，則屏幕上干涉條紋的變化情況是：（）

在邁克耳遜干涉儀的反射鏡M2平移距離為0.3220mm時，測得某單色光的干涉條紋移過1024條，則該單色光的波長為：（）

一單色光垂直照射在空氣劈尖上，當劈尖的劈角增大時，各級干涉條紋將有下列中的何種變化？（）

自然光以60°的入射角照射到不知其折射率的某一透明介質表面時，反射光為線偏振光，則應知折射光和折射角分別為：（）

在雙縫干涉實驗中，兩縫間距離為d，雙縫與屏幕之間的距離為（）

在真空中波長為λ的單色光，在折射率為n的透明介質中從A點沿某路徑傳播到（）