在雙縫干涉實(shí)驗(yàn)中，兩縫間距離為d，雙縫與屏幕之間的距離為（）

ABCD為一塊方解石的一個(gè)截面，AB為垂直于紙面的晶體平面與紙面的交線。光軸方向在紙面內(nèi)且與AB成一銳角θ，如圖所示。一束平行的單色自然光垂直于AB端面入射。在方解石內(nèi)折射光分解為o光和e光，關(guān)于o光和e光的關(guān)系，下列敘述正確的是？（）

在雙縫干涉實(shí)驗(yàn)中，若用透明的云母片遮住上面的一條縫，則干涉圖樣如何變化？（）

三個(gè)偏振片P1、P2與P3堆疊在一起，P1與P3的偏振化方向相互垂直，P2與P1的偏振化方向間的夾角為30°。強(qiáng)度為I0的自然光垂直入射于偏振片P1，并依次透過偏振片P1、P2與P3，則通過三個(gè)偏振片后的光強(qiáng)為：（）

如果兩個(gè)偏振片堆疊在一起，且偏振化方向之間夾角呈60°，假設(shè)二者對(duì)光無吸收，光強(qiáng)為I的自然光垂直入射在偏振片上，則出射光強(qiáng)為：（）

用劈尖干涉法可檢測(cè)工件表面缺陷，當(dāng)波長為λ的單色平行光垂直入射時(shí)，若觀察到的干涉條紋如圖所示，每一條紋彎曲部分的頂點(diǎn)恰好與其左邊條紋的直線部分的連線相切，則工件表面與條紋彎曲處對(duì)應(yīng)的部分應(yīng)：（）

用波長為λ的單色光垂直照射到空氣劈尖上，從反射光中觀察干涉條紋，距頂點(diǎn)為L處是暗條紋。使劈尖角θ連續(xù)變大，直到該點(diǎn)處再次出現(xiàn)暗條紋為止（見圖）。則劈尖角的改變量△θ是：（）

波長為λ的單色平行光垂直入射到一狹縫上，若第一級(jí)暗紋的位置對(duì)應(yīng)的衍射角為θ=±π/6，則縫寬的大小為：（）

在真空中波長為λ的單色光，在折射率為n的透明介質(zhì)中從A點(diǎn)沿某路徑傳播到（）

真空中波長為λ的單色光，在折射率為n的均勻透明媒質(zhì)中，從A點(diǎn)沿某一路徑傳播到B點(diǎn)。設(shè)路徑的長度為ι，A、B兩點(diǎn)光振動(dòng)相位差記為△φ，則ι和△φ的值分別為：（）