A.激勵(lì)電脈沖的寬度
B.晶片材料和厚度
C.發(fā)射電路阻尼電阻的大小
D.晶片的機(jī)電耦合系數(shù)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.接收電路
B.掃描電路
C.同步電路
D.發(fā)射電路
A.透聲性能好
B.材質(zhì)聲衰減小
C.有利消除耦合差異
D.以上全部
A.為避免出現(xiàn)幻像波
B.為增加分辨力
C.為增加信噪比
D.為提高掃描速度
A.為避免出現(xiàn)幻像波
B.為增加分辨力
C.為增加信噪比
D.以上都是
A.有足夠的潤(rùn)濕性
B.與零件的聲特性阻抗差盡量要小
C.對(duì)零件無(wú)腐蝕
D.以上都是
最新試題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。