單項(xiàng)選擇題X射線熒光分析法所應(yīng)用的元素固有的熒光X射線波長(zhǎng)為（）
A.全譜段波長(zhǎng)
B.0.001～10nm
C.0.01～120nm
D.0.1～800nm
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1.單項(xiàng)選擇題對(duì)鍍銀層厚度測(cè)量方法存在質(zhì)疑時(shí)，可使用以下哪種方法進(jìn)行驗(yàn)證（）
A.庫(kù)倫法
B.X射線熒光法
C.高倍顯微鏡法
D.稱重法
2.單項(xiàng)選擇題隔離開(kāi)關(guān)鍍銀層厚度檢測(cè)使用X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，通過(guò)從被檢件上反射的二次X射線強(qiáng)度測(cè)量鍍銀層厚度，檢測(cè)范圍可達(dá)（）µm。
A.0.1-5
B.0.01-5
C.0.1-50
D.0.01-50
3.單項(xiàng)選擇題電網(wǎng)設(shè)備的光譜分析檢驗(yàn)常用哪種設(shè)備（）
A.看譜鏡
B.光電光譜分析儀
C.手持式X射線光譜儀
D.熒光光譜儀
4.單項(xiàng)選擇題目前在對(duì)隔離開(kāi)關(guān)觸頭鍍銀層厚度的監(jiān)督檢驗(yàn)時(shí)，發(fā)現(xiàn)有生產(chǎn)廠家采用現(xiàn)場(chǎng)刷鍍的方法提高隔離開(kāi)關(guān)觸頭鍍銀層厚度，以使得鍍銀層厚度達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)要求。這種方法屬于（）采用。
A.電鍍，推薦
B.化學(xué)鍍，推薦
C.電鍍，不推薦
D.化學(xué)鍍，不推薦
5.單項(xiàng)選擇題射線檢測(cè)RT是利用X射線、γ射線和中子射線穿透物體后的（）程度不同，根據(jù)膠片感光程度的不同來(lái)檢測(cè)物體（）缺陷。
A.增強(qiáng)；內(nèi)部
B.增強(qiáng)；表面
C.衰減；內(nèi)部
D.衰減；表面
最新試題
在一般的工業(yè)探傷中，射線與物質(zhì)相互作用時(shí)，主要產(chǎn)生的兩個(gè)效應(yīng)是（）
題型：多項(xiàng)選擇題
光譜分析（）材料時(shí)，分析面不宜用砂輪機(jī)或砂紙打磨處理。
題型：多項(xiàng)選擇題
各省公司經(jīng)研院是220千伏及以上輸變電工程在（）階段以及土建專業(yè)的技術(shù)監(jiān)督實(shí)施主體。
題型：多項(xiàng)選擇題
X射線管的靶材料的特征是（）
題型：多項(xiàng)選擇題
DR檢測(cè)技術(shù)與常規(guī)射線檢測(cè)方法相比，其具有特點(diǎn)是（）
題型：多項(xiàng)選擇題
總的來(lái)看，直接數(shù)字成像系統(tǒng)的特點(diǎn)有（）
題型：多項(xiàng)選擇題
X熒光測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)有（）
題型：多項(xiàng)選擇題
國(guó)網(wǎng)新源公司在國(guó)網(wǎng)基建部的組織下，開(kāi)展（）專業(yè)全過(guò)程技術(shù)監(jiān)督工作。
題型：多項(xiàng)選擇題
高能X射線照射到物質(zhì)上以后，一般會(huì)出現(xiàn)以下哪幾種X射線（）
題型：多項(xiàng)選擇題
光譜分析按結(jié)果準(zhǔn)確性可分為（）
題型：多項(xiàng)選擇題