二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述，不正確的一項(xiàng)是（）

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化（）

底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是（）

康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括（）

使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）

底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān)，觀片燈亮度改變，最佳黑度值也將改變。

一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）

不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)（）