填空題在高于起始放電電壓時(shí),絕緣介質(zhì)的損耗會(huì)隨電壓的增加而(),因此用測(cè)量介質(zhì)損耗的方法,可以探測(cè)設(shè)備的局部放電,即所謂測(cè)量絕緣的(),但這種方法的靈敏度較低。

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