單項(xiàng)選擇題紅外線氣體分析儀薄膜電容檢測(cè)器漏氣會(huì)造成儀表（）。
A、指示回零
B、指示滿度
C、零點(diǎn)連續(xù)正漂
D、靈敏度下降
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1.問(wèn)答題說(shuō)明紅外線氣體分析儀產(chǎn)生回程的原因和處理方法。
2.問(wèn)答題敘述紅外線氣體分析儀回程的概念。
3.單項(xiàng)選擇題紅外線氣體分析儀產(chǎn)生回程的原因是（）。
A、檢測(cè)器故障
B、測(cè)量室污染
C、測(cè)量光路比參比光路的光強(qiáng)
D、參比光路比測(cè)量光路的光強(qiáng)
4.多項(xiàng)選擇題紅外線氣體分析儀在檢測(cè)過(guò)程中環(huán)境溫度的變化可能對(duì)（）造成影響。
A、紅外輻射的強(qiáng)度
B、測(cè)量氣室連續(xù)流動(dòng)的氣樣密度
C、檢測(cè)器的正常工作
D、氣樣放空流速
5.問(wèn)答題簡(jiǎn)述如何避免電源頻率變化對(duì)紅外線氣體分析儀造成的影響。
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