問答題簡述CSK—ⅠA試塊與ⅡW試塊相比有哪些改變。這些改變有何用途?
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實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
題型:單項選擇題
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
題型:單項選擇題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
題型:單項選擇題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
題型:單項選擇題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進(jìn)行傳輸修正。
題型:單項選擇題
在對缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
題型:單項選擇題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。
題型:單項選擇題
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型:單項選擇題
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
題型:單項選擇題
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
題型:單項選擇題