A.底片評定范圍內(nèi)的黑度規(guī)定與檢測技術(shù)等級有關(guān)
B.用X射線或γ射線透照小徑管時(shí),AB級最低黑度允許降至1.5
C.采用多膠片方法時(shí),單片觀察的的黑度應(yīng)不低于1.3
D.若有計(jì)量報(bào)告證明觀片燈亮度滿足要求,可對D>4.0底片進(jìn)行評定
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.放置在距焊縫5mm以內(nèi)的部位
B.所有標(biāo)記的影像不應(yīng)重疊
C.所有標(biāo)記均應(yīng)放置在源側(cè)工件表面
D.不應(yīng)有干擾有效評定范圍的影像
A.圓形缺陷評定區(qū)為一個(gè)與焊縫平行的矩形
B.在標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的條件下,各級別的圓形缺陷點(diǎn)數(shù)可放寬1~2點(diǎn)
C.當(dāng)對接焊接接頭存在深孔缺陷時(shí),其質(zhì)量級別應(yīng)評為Ⅳ級
D.質(zhì)量等級為Ⅰ級和Ⅱ級對接焊接接頭,不計(jì)點(diǎn)數(shù)的缺陷在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)不得多于10個(gè),超過時(shí)對接焊接接頭質(zhì)量等級應(yīng)降低一級
A.透照厚度
B.焦距
C.黑度
D.顯影時(shí)間
A.是否有危險(xiǎn)性缺陷特征
B.結(jié)合工藝特征分析
C.輔以其他檢測方法綜合判定
D.觀察動(dòng)態(tài)波形
A.在工件無缺陷完好區(qū)域進(jìn)行
B.檢測面與底面平行
C.選擇表面粗糙的部位
D.取三處測定的平均值
最新試題
使用變型波檢測的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
康普頓效應(yīng)對射線檢測的影響包括()
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化()
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
在工作中超聲波檢測儀屏幕上可能會(huì)出現(xiàn)()等信號波,需要仔細(xì)判別。
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為()
射線照片上一個(gè)細(xì)節(jié)的影像是否能被眼睛識別出來,最主要的是決定于()
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識別性主要決定于()
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()