A.像素尺寸
B.檢測(cè)布置放大倍數(shù)
C.采用射線能量
D.試件材料
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你可能感興趣的試題
A.輸入屏
B.閃爍體
C.光電(陰極)層
D.輸出屏
A.IP板
B.IP板掃描讀出裝置
C.A/D轉(zhuǎn)換器
D.掃描讀出軟件
A.它是一種直接轉(zhuǎn)換的輻射探測(cè)器
B.結(jié)構(gòu)包括閃爍體、非晶硅層和TFT陣列
C.閃爍體將輻射轉(zhuǎn)換為光
D.非晶硅層將光轉(zhuǎn)換為電信號(hào)
A.非晶硅探測(cè)器
B.圖像增強(qiáng)器
C.成像板(IP板)
D.氣體探測(cè)器
A.基本空間分辨率與規(guī)格化信噪比
B.基本空間分辨率與動(dòng)態(tài)范圍
C.規(guī)格化信噪比與靈敏度
D.規(guī)格化信噪比與線性范圍
最新試題
下列哪種不是射線照相法的特點(diǎn)()
在射線檢測(cè)中,下列哪一種裂紋最難檢測(cè)()
射線檢測(cè)裂紋和其與裂紋的角度的關(guān)系是()
X射線照相時(shí),設(shè)焦距為650mm,陽(yáng)極靶與管軸線傾角為20°,則其輻射場(chǎng)直徑為()
X射線的強(qiáng)度與下面哪個(gè)參數(shù)有關(guān)()
射線底片灰霧度過(guò)大會(huì)損害影像的()
下列有關(guān)評(píng)片的敘述哪一條是錯(cuò)誤的()
在射線照相檢測(cè)中,當(dāng)提高射線能量時(shí)可能發(fā)生的是()
射線照相法適用于下列哪種檢測(cè)對(duì)象()
對(duì)于螺栓的檢測(cè),不適用的無(wú)損檢測(cè)方法是()