A.發(fā)射點(diǎn)
B.偏轉(zhuǎn)點(diǎn)
C.散射點(diǎn)
D.虛源
E.參考點(diǎn)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.R85/2
B.U90/50
C.L90/L50
D.P80/20
E.U80/20
A.隨深度增加，低值等劑量線向外側(cè)擴(kuò)張
B.隨深度增加，高值等劑量線向外側(cè)擴(kuò)張
C.隨深度減小，低值等劑量線向外側(cè)擴(kuò)張
D.隨深度減小，高值等劑量線向外側(cè)擴(kuò)張
E.等劑量線不隨電子束能量而變化
A.隨深度增加，等劑量線向外側(cè)擴(kuò)張
B.電子束入射距離較遠(yuǎn)
C.電子束入射能量較高
D.電子束中包含一定數(shù)量的X射線
E.電子束在其運(yùn)動(dòng)徑跡上不易被散射
A.1-1.5
B.1.5-2
C.2-2.5
D.2.5-3
E.3-3.5
A.收縮電子束
B.展寬電子束
C.降低射野邊緣劑量
D.使射線束變得更陡峭
E.消除X射線污染
最新試題
光電效應(yīng)時(shí)入射X（γ）光子的能量一部分轉(zhuǎn)化為次級(jí)電子動(dòng)能，另一部分為特征X 射線能量。
關(guān)于曼徹斯特系統(tǒng)的描述錯(cuò)誤的是（）。
伽瑪?shù)栋悬c(diǎn)位置精度高于X射線立體定向治療系統(tǒng)的精度。
巴黎系統(tǒng)規(guī)定臨床靶區(qū)的厚度T大于1.2cm 時(shí)，應(yīng)采用雙平面插植。
射野中心軸上百分深度劑量值的大小直接反應(yīng)了射線質(zhì)（能量）的高低。
電磁掃描調(diào)強(qiáng)不僅具有X 射線光子的利用率高、治療時(shí)間短的優(yōu)點(diǎn)，而且可實(shí)現(xiàn)電子束、質(zhì)子束的調(diào)強(qiáng)治療。
低LET射線的RBE值（）1.0，高LET射線的RBE值（）2.0。
兩種不同深度處的百分深度劑量比值稱為射線質(zhì)指數(shù)或能量指數(shù)。
半影為射野邊緣劑量隨離開中心軸距離增加而急劇變化的范圍。
質(zhì)子束的優(yōu)勢(shì)在于布拉格峰形百分深度劑量分布。