A.DDR
B.DRR
C.DCR
D.REV
E.BEV
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.鐳-226
B.銥-192
C.銫-137
D.碘125
E.鈷-60
A.30
B.40
C.50
D.60
E.70
A.proimos
B.Trump
C.Takahashi
D.Green
E.Umegaki
A.4mm
B.6mm
C.12mm
D.16mm
E.19mm
A.電子注量
B.電子密度
C.物理密度
D.原子序數(shù)
E.原子量
最新試題
光電效應(yīng)時(shí)入射X(γ)光子的能量一部分轉(zhuǎn)化為次級(jí)電子動(dòng)能,另一部分為特征X 射線(xiàn)能量。
帶電粒子入射到物體時(shí),沒(méi)有確定的射程。
巴黎系統(tǒng)的插植規(guī)定所有的放射源的線(xiàn)比釋動(dòng)能率相等。
質(zhì)量保證和質(zhì)量控制的簡(jiǎn)稱(chēng)分別為QA、QC。
LET=()Kev/μm 是高低LET 射線(xiàn)的分界線(xiàn)。
低LET射線(xiàn)的RBE值()1.0,高LET射線(xiàn)的RBE值()2.0。
α/β不僅代表了細(xì)胞存活曲線(xiàn)的曲度,也代表了細(xì)胞對(duì)亞致死損傷的修復(fù)能力。
百分深度劑量受照射野面積的影響。
電磁掃描調(diào)強(qiáng)不僅具有X 射線(xiàn)光子的利用率高、治療時(shí)間短的優(yōu)點(diǎn),而且可實(shí)現(xiàn)電子束、質(zhì)子束的調(diào)強(qiáng)治療。
隨能量增大,光電效應(yīng)發(fā)生的概率迅速減小。