當(dāng)量法用來(lái)測(cè)量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

檢測(cè)面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。

盲區(qū)與始波寬度是同一概念。

斜探頭楔塊上部和前部開(kāi)消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

多探頭法是用兩個(gè)以上的探頭同時(shí)工作的檢測(cè)方法。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。

檢測(cè)面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測(cè)技術(shù)綜合考慮。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。