C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。

JB/T4730.4-2005標(biāo)準規(guī)定：磁粉檢測時一般應(yīng)選用A1-60/100型標(biāo)準試片。

在不退磁的情況下，周向磁化產(chǎn)生的剩磁比縱向磁化產(chǎn)生的剩磁有更大的危害性。

組合裝配件應(yīng)分解后再進行磁粉檢測。

磁懸液應(yīng)采用軟管沖淋或浸漬法施加于工件表面。

一般說來，進行了周向磁化工件的退磁，應(yīng)先進行一次縱向磁化。

退磁就是消除材料磁化后的剩余磁場使其達到無磁狀態(tài)的過程。

用連續(xù)法檢測時，檢測靈敏度幾乎不受被檢工件材質(zhì)的影響，僅與被檢工件表面磁場強度有關(guān)。

JB/T4730.4-2005標(biāo)準規(guī)定：磁粉檢測的工件表面不得有油脂、鐵銹、氧化皮或其它粘附磁粉的物質(zhì)。

材料磁導(dǎo)率低（剩磁大）及直流磁化后，退磁磁場換向的次數(shù)（退磁頻率）應(yīng)較多，每次下降的磁場值應(yīng)較小，且每次停留的時間（周期）要略長。