A.測(cè)井速度是根據(jù)儀器特性、處理軟件和地質(zhì)要求確定的
B.測(cè)速過(guò)快將降低儀器縱向分辨率
C.幾種儀器組合時(shí)應(yīng)采用最低測(cè)速儀器的測(cè)速
D.測(cè)速過(guò)快影響曲線幅度,但對(duì)深度沒有影響
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A.±0.1
B.±0.05
C.±0.03
D.±0.01
A.主刻度
B.主校驗(yàn)
C.測(cè)前刻度
D.測(cè)后校驗(yàn)
A.主刻度
B.主校驗(yàn)
C.測(cè)前刻度
D.測(cè)后校驗(yàn)
A.單點(diǎn)法
B.兩點(diǎn)法
C.三點(diǎn)法
D.平均法
A.1
B.0.5
C.0.2
D.0.1
最新試題
核磁共振測(cè)井時(shí),當(dāng)?shù)貙涌紫抖炔恍∮?5%時(shí),孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的相對(duì)誤差()10%。
超聲波成像測(cè)井的影響因素為工作頻率、()、測(cè)量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。
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在薄互層中,泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層()。
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簡(jiǎn)述如何根據(jù)聲電成像測(cè)井確定現(xiàn)今地應(yīng)力的方向。
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平移斷層斷層面一般較陡,可以是平直的,也可以是彎曲的。平移斷層在剖面上()。
泥質(zhì)砂巖地層核磁有效孔隙度應(yīng)小于或等于()孔隙度。
電容法持水率計(jì)的現(xiàn)場(chǎng)刻度要求是什么?