A.正差異
B.負(fù)差異
C.負(fù)異常
D.正異常
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A.不一定都有偏離
B.接近
C.相交
D.重合
A.擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)
B.擴(kuò)散吸附電動(dòng)勢(shì)
C.過濾電動(dòng)勢(shì)
D.吸附電動(dòng)勢(shì)
A.5
B.10
C.15
D.20
A.25,50
B.50,100
C.25,100
D.20,50
A.19.4
B.18.9
C.18.8
D.19.2
最新試題
微電阻率電成像反映地層特征(裂縫、溶洞、層界面等)清晰,與聲成像具有()。
影響核磁共振測(cè)井的主要因素包括()、孔隙流體及巖石的潤(rùn)濕性和地層磁化率差異。
多極子陣列聲波測(cè)井的重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井的波列特征應(yīng)相似,縱波時(shí)差重復(fù)曲線與主測(cè)井曲線形狀相同,重復(fù)測(cè)量值相對(duì)重復(fù)誤差應(yīng)小于()。
井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測(cè)量時(shí),發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的,與介質(zhì)的電阻率()。
多極子陣列聲波測(cè)井首波波至?xí)r間曲線變化形態(tài)應(yīng)()。
電容法持水率計(jì)的現(xiàn)場(chǎng)刻度要求是什么?
超聲波成像測(cè)井的影響因素為工作頻率、()、測(cè)量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。
泥漿濾液的侵入使孔隙流體發(fā)生了改變,當(dāng)濾液中含有順磁物質(zhì)時(shí)會(huì)()橫向弛豫時(shí)。
簡(jiǎn)述如何根據(jù)聲電成像測(cè)井確定現(xiàn)今地應(yīng)力的方向。
微電阻率成像三井徑曲線變化正常,除橢圓井眼外,在井眼規(guī)則處應(yīng)()。