微電阻率成像三井徑曲線變化正常，除橢圓井眼外，在井眼規(guī)則處應(yīng)（）。

影響核磁共振測(cè)井的主要因素包括（）、孔隙流體及巖石的潤(rùn)濕性和地層磁化率差異。

多極子陣列聲波測(cè)井首波波至?xí)r間曲線變化形態(tài)應(yīng)（）。

在薄互層中，泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層（）。

井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測(cè)量時(shí)，發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的，與介質(zhì)的電阻率（）。

核磁共振測(cè)量結(jié)果幾乎不受（）影響。

超聲波成像測(cè)井的影響因素為工作頻率、（）、測(cè)量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。

微電阻率成像測(cè)井無(wú)效（壞）電極數(shù)不應(yīng)超過(guò)（）。

泥漿濾液的侵入使孔隙流體發(fā)生了改變，當(dāng)濾液中含有順磁物質(zhì)時(shí)會(huì)（）橫向弛豫時(shí)。

井壁微電阻率掃描成像儀極板和井壁的間隙增大會(huì)（）儀器的垂向分辨率。