在薄互層中，泥漿侵入對井壁微電阻率掃描成像測量響應(yīng)的影響較之厚層（）。

當(dāng)水體漸進(jìn)時，沉積范圍逐漸擴(kuò)大，較新沉積層覆蓋了較老沉積層，并向陸地擴(kuò)展，與更老的地層侵蝕面成不整合接觸，在柱狀剖面上，表現(xiàn)為下粗上細(xì)特征，這種現(xiàn)象稱為（）。

簡述VSP 測井影響因素。

井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測量時，發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的，與介質(zhì)的電阻率（）。

平移斷層斷層面一般較陡，可以是平直的，也可以是彎曲的。平移斷層在剖面上（）。

利用多極子聲波測井可以更好地獲得硬地層和軟地層的縱波、橫波和（）等特征參數(shù)。

微電阻率成像三井徑曲線變化正常，除橢圓井眼外，在井眼規(guī)則處應(yīng)（）。

核磁共振弛豫包括（）。

超聲波成像測井的影響因素為工作頻率、（）、測量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。

在相同的外加磁場中，不同的原子核的進(jìn)動頻率（）。