A.25，100
B.50，200
C.25，250
D.25，500
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A.0.5
B.0.2
C.0.8
D.2
A.0.5
B.1
C.0.2
D.2
A.低，明顯
B.低，不明顯
C.高，明顯
D.高，不明顯
A.標(biāo)準(zhǔn)地層進(jìn)行檢測(cè)
B.深度標(biāo)準(zhǔn)井內(nèi)進(jìn)行深度校驗(yàn)
C.孔隙度標(biāo)準(zhǔn)井內(nèi)進(jìn)行誤差檢測(cè)
D.標(biāo)準(zhǔn)水層進(jìn)行流體檢驗(yàn)
A.差別較大
B.應(yīng)在允許誤差的范圍內(nèi)
C.完全對(duì)應(yīng)
D.差別大小由解釋人員的確定
最新試題
微電阻率成像測(cè)井按井眼條件選擇扶正器，測(cè)井時(shí)極板壓力（）。
多極子陣列聲波測(cè)井首波波至?xí)r間曲線變化形態(tài)應(yīng)（）。
當(dāng)?shù)貙涌紫抖刃∮?5%時(shí)，孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的絕對(duì)誤差小于（）。
在（）的概念中，沉積環(huán)境和沉積巖特征的辯證關(guān)系是：沉積環(huán)境是形成沉積巖特征的決定因素，沉積巖特征則是沉積環(huán)境的物質(zhì)表現(xiàn)。
井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測(cè)量時(shí)，發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的，與介質(zhì)的電阻率（）。
簡(jiǎn)述VSP 測(cè)井影響因素。
孔隙充滿液體的較純砂巖地層：核磁（）近似等于密度/中子交會(huì)孔隙度。
多極子陣列聲波測(cè)井的重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井的波列特征應(yīng)相似，縱波時(shí)差重復(fù)曲線與主測(cè)井曲線形狀相同，重復(fù)測(cè)量值相對(duì)重復(fù)誤差應(yīng)小于（）。
核磁共振測(cè)量結(jié)果幾乎不受（）影響。
簡(jiǎn)述如何根據(jù)聲電成像測(cè)井確定現(xiàn)今地應(yīng)力的方向。