VSP 測(cè)井是一種高分辨率的（）勘探技術(shù)。

核磁共振測(cè)量結(jié)果幾乎不受（）影響。

簡(jiǎn)述VSP 測(cè)井影響因素。

當(dāng)偶極子聲源在井內(nèi)振動(dòng)時(shí)，井壁附近產(chǎn)生撓曲波，它是一種（）。

泥質(zhì)砂巖地層核磁有效孔隙度應(yīng)小于或等于（）孔隙度。

核磁共振弛豫受三種機(jī)制控制：表面弛豫、體積弛豫和（）。

井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測(cè)量時(shí)，發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的，與介質(zhì)的電阻率（）。

當(dāng)水體漸進(jìn)時(shí)，沉積范圍逐漸擴(kuò)大，較新沉積層覆蓋了較老沉積層，并向陸地?cái)U(kuò)展，與更老的地層侵蝕面成不整合接觸，在柱狀剖面上，表現(xiàn)為下粗上細(xì)特征，這種現(xiàn)象稱為（）。

核磁共振測(cè)井時(shí)，當(dāng)?shù)貙涌紫抖炔恍∮?5%時(shí)，孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的相對(duì)誤差（）10%。

超聲波成像測(cè)井的影響因素為工作頻率、（）、測(cè)量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。