熒光磁粉受照射時產生的黃綠色熒光的波長范圍為320～400nm。

熒光磁粉探傷過程中，當不觀察磁痕時應隨時關閉黑光燈，這樣可延長黑光燈使用壽命，并可避免誤照人眼。

整流電流中包含的交流分量愈大，檢測近表面缺陷的能力愈小。

MRI 法與MT—RC 法相比其對比度大，靈敏度較高，工藝較易控制，可靠性高。

標準試塊主要用于檢驗磁粉探傷靈敏度，考察被檢工件表面的磁場方向。

磁粉探傷不易發(fā)現點狀缺陷和與工件表面夾角小于20°的分層。

JB3965-85中規(guī)定，縱向磁化低填充系數的線圈磁化規(guī)范計算公式為：工件偏心放置時IN=45000/（D/L）；工件正中放置時IN=43000/[6L/（D-5）]

以下關于試件達到磁飽和所需要磁場強度的敘述，錯誤的是（）。

以下關于交變電流趨膚效應的敘述，錯誤的是（）。

一工件尺寸如圖，采用周向連續(xù)法探傷，磁化電流值應為多少？