A. 晶片
B. 阻尼塊
C. 保護(hù)膜
D. 隔聲層
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A. 接觸式探頭和液浸探頭
B. 縱波探頭和橫波探頭
C. 聚焦探頭和非聚焦探頭
D. 單晶探頭和雙晶探頭
A. 機(jī)電耦合系數(shù)K
B. 介電常數(shù)ε
C. 壓電電壓常數(shù)g33
D. 壓電應(yīng)變常數(shù)d33
A.控制和接收信號(hào)處理和顯示采用數(shù)字化
B.頻帶寬
C.可記錄存貯信號(hào)
D.儀器有計(jì)算和距離波幅曲線自動(dòng)生成
A. 深度粗調(diào)旋鈕
B. 頻率選擇旋鈕
C. 延遲旋鈕
D. 工作方式選擇旋鈕
A. 重復(fù)頻率旋鈕
B. 增益微調(diào)旋鈕
C. 衰減器旋鈕
D. 發(fā)射強(qiáng)度旋鈕
最新試題
用2.5P14Z探頭探測(cè)某鍛件，發(fā)現(xiàn)在100mm深處有一個(gè)Φ6當(dāng)量平底孔缺陷，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)評(píng)幾級(jí)？
用斜探頭檢測(cè)板厚T = 20mm ，上、下焊縫寬度為30mm的對(duì)接接頭，探頭前沿長(zhǎng)度為 20mm ，為保證聲束能掃查到整個(gè)焊接接頭截面，試確定用一、二次波檢測(cè)時(shí)探頭的K值？
用2.5P20Z探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件，鋼中CL=5900m/s ， 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm ， （1）如用試塊（衰減可忽略）上的深200mm ，Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處檢測(cè)靈敏度（400/Ф2），兩者的波高差為多少？ （2）如果用厚度為200mm的試塊（鍛件與試塊衰減系數(shù)相同，耦合差為5dB）底波調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度（400/Ф2），兩者反射波高差為多少？
模擬式超聲波探傷儀用K2.3橫波斜探頭，用CSK-Ⅰ試塊R50和R100圓弧按水平1：1 進(jìn)行掃描速度校準(zhǔn)，求R50、R100圓弧面的回波應(yīng)分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度值為多少？
用K2斜探頭檢測(cè)T = 28mm 的鋼板對(duì)接接頭 ，儀器按深度1：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線，這時(shí)衰減器讀數(shù)為34dB ， 試塊與工件耦合差為5dB ，（1） 如何調(diào)節(jié)評(píng)定線Ф1×6－9dB靈敏度？（2） 檢測(cè)中在 =50處發(fā)現(xiàn)一缺陷波，其波高達(dá)面板曲線時(shí)， 衰減器讀數(shù)為28dB，求該缺陷的當(dāng)量和所在區(qū)域？（按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn)）
面積為1×1m2的鋼板超聲檢測(cè)，發(fā)現(xiàn)有以下缺陷：指示長(zhǎng)度為90mm面積80cm2的缺陷4個(gè)， 指示長(zhǎng)度為75mm，面積50cm2的缺陷3個(gè)；指示長(zhǎng)度為50mm 面積12cm2的缺陷5個(gè)；各缺陷間距均大于100mm，試根JB/T4730.3－2005標(biāo)準(zhǔn)判別鋼板等級(jí)。
用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚500mm的餅形鋼鍛件(CL=5900m/s ) ，如何用工件底波調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度（500/Ф2）
用2.5P20Z直探頭檢驗(yàn)厚度380mm的鋼鍛件（CL＝5900 m/s），材質(zhì)衰減系數(shù)α＝0.01 dB/mm。檢測(cè)中在130mm深發(fā)現(xiàn)一缺陷，其波幅較底波低7dB，求此缺陷當(dāng)量大小？
用2.5P20Z探頭檢測(cè)400mm的工件, CL= 5900m/s , 如何利用150mm處Ф4平底孔調(diào)節(jié)400/Ф2靈敏度？
用2.5P14Z探頭檢測(cè)某鍛件，發(fā)現(xiàn)在50mm深處有一缺陷引起的底波降低量為18dB，另一處密集區(qū)缺陷面積為 100cm2，檢測(cè)總面積為0.5米×0.5米，同時(shí)發(fā)現(xiàn)一單個(gè)缺陷，當(dāng)量為Φ4+10dB，試根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定此鍛件等級(jí)。