A. CSⅠ 、 CBⅠ
B. CSK-ⅢA 、CSK-ⅠA
C. CSⅢ 、CSK-ⅠA
D. RB-Ⅰ 、CSⅡ
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A.工作頻率
B.晶片尺寸
C.探測(cè)深度
D.近場(chǎng)長(zhǎng)度
A. 探頭的工作頻率為2MHz
B. 探頭的K值為2
C. 探頭的種類為2
D. 以上都不是
A. 重復(fù)頻率
B. 工作頻率
C. 觸發(fā)脈沖頻率
D. 以上都不是
A.球面
B.平面
C.柱面
D.以上都可以
A.探測(cè)近表面缺陷
B.精確測(cè)定缺陷長(zhǎng)度
C.精確測(cè)定缺陷高度
D.用于表面缺陷檢測(cè)
最新試題
用K2探頭探測(cè)T=36mm鋼板對(duì)接焊接接頭,儀器按深度l:1調(diào)節(jié),在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Φ1×6面板曲線,這時(shí)衰減器讀數(shù)為32dB,試塊與工件耦合差為5dB, (1)試問焊縫兩側(cè)的修磨寬度各為多少?(2)如何設(shè)定Φ1×6-9dB評(píng)定線靈敏度?
用2.5P14Z探頭探測(cè)某鍛件,發(fā)現(xiàn)在100mm深處有一個(gè)Φ6當(dāng)量平底孔缺陷,根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)評(píng)幾級(jí)?
檢測(cè)板厚T=20mm的鋼板對(duì)接焊接接頭,上焊縫寬34mm,下焊縫寬25mm,選用K2探頭,前沿距離L0=16mm,用一、二次波法能否掃查到整個(gè)焊縫截面?是否能滿足要求?
用2.5P20Z直探頭檢驗(yàn)厚度380mm的鋼鍛件(CL=5900 m/s),材質(zhì)衰減系數(shù)α=0.01 dB/mm。檢測(cè)中在130mm深發(fā)現(xiàn)一缺陷,其波幅較底波低7dB,求此缺陷當(dāng)量大小?
用K2斜探頭檢測(cè)T = 28mm 的鋼板對(duì)接接頭 ,儀器按深度1:1調(diào)節(jié),在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線,這時(shí)衰減器讀數(shù)為34dB , 試塊與工件耦合差為5dB ,(1) 如何調(diào)節(jié)評(píng)定線Ф1×6-9dB靈敏度?(2) 檢測(cè)中在 =50處發(fā)現(xiàn)一缺陷波,其波高達(dá)面板曲線時(shí), 衰減器讀數(shù)為28dB,求該缺陷的當(dāng)量和所在區(qū)域?(按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn))
用2.5P14Z探頭檢檢測(cè)厚度T=150mm鋼板(CL= 5900m/s),如何用鋼板完好部位底波校準(zhǔn)檢測(cè)靈敏度?
對(duì)厚度60mm的鋼板進(jìn)行水浸檢測(cè),已知水層厚度H = 30mm ,計(jì)算這是幾次重合法?
用2.5P20Z探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件,鋼中CL=5900m/s , 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm , (1)如用試塊(衰減可忽略)上的深200mm ,Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處檢測(cè)靈敏度(400/Ф2),兩者的波高差為多少? (2)如果用厚度為200mm的試塊(鍛件與試塊衰減系數(shù)相同,耦合差為5dB)底波調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度(400/Ф2),兩者反射波高差為多少?
用2.5MHz、Φ20mm直探頭探測(cè)厚為200mm的餅形鍛件,已知底波B1=80%,B2=35%,若不計(jì)底面反射損失,求該鍛件的材質(zhì)衰減系數(shù)為多少?
用2.5P20Z探頭從外圓周面檢測(cè)外徑D=1000mm ,內(nèi)孔d = 600mm的鍛件,CL=5900m/s 。如何利用內(nèi)孔回波校準(zhǔn)200/Ф2靈敏度?