A.小于實(shí)際尺寸
B.接近聲束寬度
C.稍大于實(shí)際尺寸
D.等于晶片尺寸
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A.缺陷反射面大小
B.缺陷性質(zhì)
C.缺陷取向
D.以上全部
A. K 值是不穩(wěn)定的數(shù)據(jù)
B. K 值隨電壓的變化而變化
C. K 值常因磨損而發(fā)生變化
D.以上都對(duì)
A.探頭磨損會(huì)使入射點(diǎn)發(fā)生變化
B. 探頭磨損可能導(dǎo)致探頭K值的增大或減小
C. 探頭磨損可能導(dǎo)致儀器的水平線性的變化
D. 探頭磨損可能導(dǎo)致掃描速度的變化
A.儀器和探頭
B.操作人員的影響
C.工件的影響
D.耦合劑的影響
A. 前后、左右
B. 轉(zhuǎn)角
C. 環(huán)繞
D. 以上都是
最新試題
用單斜探頭直接接觸法檢測(cè)φ400×48mm無(wú)縫鋼管，求能夠檢測(cè)到管內(nèi)壁探頭的最大K值？
用2.5P14Z探頭探測(cè)某鍛件，發(fā)現(xiàn)在100mm深處有一個(gè)Φ6當(dāng)量平底孔缺陷，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)評(píng)幾級(jí)？
用K2斜探頭檢測(cè)T = 28mm 的鋼板對(duì)接接頭 ，儀器按深度1：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線，這時(shí)衰減器讀數(shù)為34dB ， 試塊與工件耦合差為5dB ，（1） 如何調(diào)節(jié)評(píng)定線Ф1×6－9dB靈敏度？（2） 檢測(cè)中在 =50處發(fā)現(xiàn)一缺陷波，其波高達(dá)面板曲線時(shí)， 衰減器讀數(shù)為28dB，求該缺陷的當(dāng)量和所在區(qū)域？（按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn)）
模擬式超聲波探傷儀用K2.3橫波斜探頭，用CSK-Ⅰ試塊R50和R100圓弧按水平1：1 進(jìn)行掃描速度校準(zhǔn)，求R50、R100圓弧面的回波應(yīng)分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度值為多少？
用5P10×12K2.5探頭，檢測(cè)板厚T = 20 mm 的鋼對(duì)接焊接接頭，掃描時(shí)基線按水平1：1調(diào)節(jié)，檢測(cè)時(shí)，水平刻度40和70mm處各發(fā)現(xiàn)缺陷波一個(gè)，試分別求這兩個(gè)缺陷的深度？
用CSK－IA 試塊測(cè)定斜探頭和儀器的分辨力,現(xiàn)測(cè)得臺(tái)階孔Ф50、Ф44 反射波等高時(shí)波峰高h(yuǎn)1=80% ,h2=25% ,求分辨力為多少？
用2.5P20Z直探頭檢驗(yàn)厚度380mm的鋼鍛件（CL＝5900 m/s），材質(zhì)衰減系數(shù)α＝0.01 dB/mm。檢測(cè)中在130mm深發(fā)現(xiàn)一缺陷，其波幅較底波低7dB，求此缺陷當(dāng)量大??？
用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚500mm的工件，CL=5900m/s ， 檢測(cè)中在200mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷， 其波高比底波低12dB ， 求此缺陷的當(dāng)量大??？
用2.5P14Z探頭檢檢測(cè)厚度T＝150mm鋼板（CL= 5900m/s），如何用鋼板完好部位底波校準(zhǔn)檢測(cè)靈敏度？
對(duì)厚度40mm的鋼板用水浸二次重合法檢測(cè)，用鋼試塊按1 ： 2 調(diào)節(jié)儀器的掃描速度并校正“0”點(diǎn)，求： （1）水層厚度為多少？ （2）如鋼板中距上表面12mm深度處存在缺陷，則缺陷回波的水平刻度值應(yīng)為多少？ （3）示波屏上τf2= 50處出現(xiàn)缺陷回波，求缺陷距鋼板上表面的深度？