A.探頭前沿短
B. 折射角大
C. 晶片面積小、
D. 以上同時(shí)考慮
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A. CSK-ⅠA
B. T3型
C. CSK-ⅡA
D. T1型
A. CS1 型
B. CS2型
C. T2型
D. T1型
A. 直探頭、縱波斜探頭、橫波斜探頭
B. 雙晶探頭、縱波斜探頭、橫波斜探頭
C. 雙晶探頭、直探頭、縱波斜探頭、縱波雙晶斜探頭
D. 雙晶探頭、直探頭、橫波斜探頭
A. 直探頭在翼板外側(cè)上掃查檢測(cè)
B. 斜探頭在翼板外側(cè)掃查檢測(cè)
C. 直探頭在腹板上掃查檢測(cè)
D. 斜探頭在腹板上掃查檢測(cè)
A. 試塊法
B. 通用 AVG 曲線法
C. 底波計(jì)算法
D. 以上都可以
最新試題
模擬式超聲波探傷儀用K2.3橫波斜探頭,用CSK-Ⅰ試塊R50和R100圓弧按水平1:1 進(jìn)行掃描速度校準(zhǔn),求R50、R100圓弧面的回波應(yīng)分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度值為多少?
用K1探頭探測(cè)外徑為600mm焊縫筒體,計(jì)算能探測(cè)的壁厚最大厚度是多少?
在厚度T=200mm的試塊上校準(zhǔn)縱波掃描速度,若B2對(duì)準(zhǔn)50 , B4對(duì)準(zhǔn)100 。計(jì)算這時(shí)的掃描速度為多少?此時(shí)B1、B3分別對(duì)準(zhǔn)的水平刻度值為多少?
用CSK-IA 試塊測(cè)定斜探頭和儀器的分辨力,現(xiàn)測(cè)得臺(tái)階孔Ф50、Ф44 反射波等高時(shí)波峰高h(yuǎn)1=80% ,h2=25% ,求分辨力為多少?
用2.5P20Z探頭檢測(cè)400mm的工件, CL= 5900m/s , 如何利用150mm處Ф4平底孔調(diào)節(jié)400/Ф2靈敏度?
用2.5P20Z直探頭檢驗(yàn)厚度380mm的鋼鍛件(CL=5900 m/s),材質(zhì)衰減系數(shù)α=0.01 dB/mm。檢測(cè)中在130mm深發(fā)現(xiàn)一缺陷,其波幅較底波低7dB,求此缺陷當(dāng)量大???
檢測(cè)板厚T=20mm的鋼板對(duì)接焊接接頭,上焊縫寬34mm,下焊縫寬25mm,選用K2探頭,前沿距離L0=16mm,用一、二次波法能否掃查到整個(gè)焊縫截面?是否能滿足要求?
用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件(CL=5900m/s ) ,檢測(cè)靈敏度校準(zhǔn)(400/Ф2)后進(jìn)行檢測(cè),發(fā)現(xiàn)在250mm處有一缺陷,缺陷波幅比基準(zhǔn)波幅高30dB,求此缺陷當(dāng)量?
用2.5P20Z探頭檢測(cè)厚400mm的鋼鍛件,鋼中CL=5900m/s , 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm , (1)如用試塊(衰減可忽略)上的深200mm ,Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處檢測(cè)靈敏度(400/Ф2),兩者的波高差為多少? (2)如果用厚度為200mm的試塊(鍛件與試塊衰減系數(shù)相同,耦合差為5dB)底波調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度(400/Ф2),兩者反射波高差為多少?
用5P10×12K2探頭檢測(cè)板厚T = 24mm 鋼板對(duì)接焊縫,掃描線按深度2:1調(diào)節(jié),檢測(cè) 時(shí)在水平刻度τf= 60處發(fā)現(xiàn)一缺陷波,計(jì)算此缺陷深度和水平距離?