帶電粒子入射到物體時(shí)，沒有確定的射程。

低LET射線的RBE值（）1.0，高LET射線的RBE值（）2.0。

目前靶區(qū)劑量的精確性規(guī)定應(yīng)達(dá)到（）。

帶電粒子與物質(zhì)的一次相互作用可以損失其能量的全部或很大一部分。

半影為射野邊緣劑量隨離開中心軸距離增加而急劇變化的范圍。

對(duì)鈷60機(jī)射野的對(duì)稱性和平坦度的檢查應(yīng)每月一次。

電磁掃描調(diào)強(qiáng)不僅具有X 射線光子的利用率高、治療時(shí)間短的優(yōu)點(diǎn)，而且可實(shí)現(xiàn)電子束、質(zhì)子束的調(diào)強(qiáng)治療。

射線能量越高，百分深度劑量隨射野面積的改變?cè)叫　?/p>

關(guān)于組織補(bǔ)償?shù)拿枋?，錯(cuò)誤的是（）。

光電效應(yīng)時(shí)入射X（γ）光子的能量一部分轉(zhuǎn)化為次級(jí)電子動(dòng)能，另一部分為特征X 射線能量。