A.連續(xù)譜
B.標(biāo)識(shí)譜
C.連續(xù)標(biāo)識(shí)譜
D.特征譜
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.比庫(kù)侖力大10倍的力
B.短程力
C.比庫(kù)侖力大100倍的力
D.無(wú)距離限制的力
A.使帶電原子位置同向移動(dòng)
B.使帶電原子位置異向移動(dòng)
C.使正負(fù)電荷分居晶體兩側(cè)
D.使正負(fù)電荷抵消
A.易于非基礎(chǔ)檢測(cè)
B.不易于非基礎(chǔ)檢測(cè)
C.可實(shí)現(xiàn)在線實(shí)時(shí)檢測(cè)
D.無(wú)法實(shí)現(xiàn)在線實(shí)時(shí)檢測(cè)
A.砂型鑄件
B.鋁、鎂合金
C.鈦合金
D.陶瓷件
A.濃度較低時(shí)，能達(dá)到吸附飽和狀態(tài)
B.濃度較高時(shí)，能達(dá)到吸附飽和狀態(tài)
C.濃度較低時(shí)，有較強(qiáng)的表面張力
D.濃度較高時(shí)，有較強(qiáng)的表面張力
最新試題
筒形或環(huán)形鍛件的鍛造工藝是先鐓粗，后沖孔，再滾壓。因此，缺陷的取向比軸類(lèi)鍛件和餅類(lèi)鍛件中的缺陷取向復(fù)雜。所以對(duì)這類(lèi)鍛件一般采用（）進(jìn)行檢測(cè)。
按照受檢材料的相容性，可將滲透劑分為（）滲透劑。
用半價(jià)層描述的某種能量的射線是指（）。
標(biāo)準(zhǔn)試塊具有規(guī)定的（），這是標(biāo)準(zhǔn)試塊的基本要求。
當(dāng)障礙物尺寸Df< < 波長(zhǎng)λ時(shí)，會(huì)出現(xiàn)以下（）等現(xiàn)象。
屬于γ射線探傷設(shè)備的操作故障有（）。
定影液在使用過(guò)程中定影劑不斷消耗，造成（），使定影速度減慢，所需的定影時(shí)間越來(lái)越長(zhǎng)，此現(xiàn)象稱(chēng)為定影液的老化。
下列關(guān)于照射場(chǎng)的大小對(duì)散射比的影像的說(shuō)法，錯(cuò)誤的有（）。
對(duì)底片進(jìn)行評(píng)定時(shí)，首先對(duì)底片進(jìn)行質(zhì)量檢查，不滿(mǎn)足要求的底片不予評(píng)定，質(zhì)量檢查項(xiàng)目有（）。
滲透檢測(cè)通常在（）前進(jìn)行，表面處理后局部加工時(shí)需再次檢測(cè)。