A.端面垂直入射檢驗(yàn)
B.端面斜入射檢驗(yàn)
C.圓周面垂直入射檢驗(yàn)和圓周面斜入射檢驗(yàn)
D.以上都是
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A.端面區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域大
B.端面區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域小
C.圓周區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域小
D.不能確定
A.平底孔
B.橫通孔
C.矩形槽
D.V型槽
A.接觸法縱波+橫波,端面掃查
B.水浸法縱波+橫波,端面掃查
C.水浸或接觸法縱波+橫波,周面掃查
D.縱波檢查內(nèi)部缺陷,表面波檢查表面缺陷
A.平底孔
B.橫通孔
C.矩形槽
D.V型槽
A.縱波徑向
B.縱波軸向
C.橫波周向和軸向
D.以上都可以
最新試題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
儀器水平線性影響()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。