簡(jiǎn)述如何根據(jù)聲電成像測(cè)井確定現(xiàn)今地應(yīng)力的方向。

在薄互層中，泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層（）。

當(dāng)水體漸進(jìn)時(shí)，沉積范圍逐漸擴(kuò)大，較新沉積層覆蓋了較老沉積層，并向陸地?cái)U(kuò)展，與更老的地層侵蝕面成不整合接觸，在柱狀剖面上，表現(xiàn)為下粗上細(xì)特征，這種現(xiàn)象稱為（）。

微電阻率成像測(cè)井按井眼條件選擇扶正器，測(cè)井時(shí)極板壓力（）。

利用多極子聲波測(cè)井可以更好地獲得硬地層和軟地層的縱波、橫波和（）等特征參數(shù)。

井壁微電阻率掃描成像儀器的電扣越小，分辨率（），井壁電阻率掃描圖像越清晰。

當(dāng)?shù)貙涌紫抖刃∮?5%時(shí)，孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的絕對(duì)誤差小于（）。

影響核磁共振測(cè)井的主要因素包括（）、孔隙流體及巖石的潤(rùn)濕性和地層磁化率差異。

平移斷層斷層面一般較陡，可以是平直的，也可以是彎曲的。平移斷層在剖面上（）。

微電阻率電成像反映地層特征（裂縫、溶洞、層界面等）清晰，與聲成像具有（）。