A.堿性類
B.甘油類
C.硅基類
D.以上都不適用
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A.根據(jù)探測范圍選擇適當(dāng)厚度的試塊,以一次底回波設(shè)定
B.根據(jù)探測范圍選擇適當(dāng)厚度的試塊,以兩次以上底
C.可以按被檢材料聲速設(shè)定,而不需要使用試塊
D.以上都可以
A.可以利用被檢件底面回波調(diào)整時基線;
B.利用兩次或兩次以上回波作為基準(zhǔn)回波;
C.調(diào)整時,應(yīng)同時校正零位;
D.以上都是。
A.已知厚度的大平底零件
B.標(biāo)準(zhǔn)試塊
C.對比試塊
D.以上都可以
A.20mm
B.50mm
C.100mm
D.200mm
A.試塊比較
B.試塊計算
C.AVG曲線
D.以上都可以
最新試題
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
超聲波儀時基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
在對缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。