A.橫通孔試塊
B.平底孔試塊(橫波)
C.帶棱邊的矩形試塊
D.以上都可以
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A.35°
B.45°
C.55°
D.60°
A.可以直接在帶棱邊的工件上調(diào)整時(shí)基線
B.工件表面的外來物對聲波衰減有明顯作用
C.通過手指觸摸可以容易地找到反射點(diǎn)
D.以上都是
A.檢測技術(shù)的選擇是否正確
B.檢測過程的操作是否正確
C.缺陷評定方法是否正確
D.以上都是
A.由于缺陷取向的影響;大尺寸缺陷的回波比小尺寸缺陷的回波高
B.由于缺陷形狀的影響;圓片形缺陷的回波比圓柱形缺陷的回波高
C.由于缺陷性質(zhì)的影響;氣孔缺陷的回波比夾雜缺陷的回波高
D.由于缺陷表面的影響;對于傾斜缺陷,粗糙面的回波比光滑面的回波高
A.有已知聲速的平面試樣
B.待測件厚度可以測量
C.時(shí)基線調(diào)整要準(zhǔn)確
D.以上都是
最新試題
單探頭法容易檢出()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
()是影響缺陷定量的因素。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯誤的是()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。