判斷題記憶效應(yīng)又稱殘留效應(yīng),是指分析測試時前一試樣的殘留,造成下一個試樣的吸收偏高,或使儀器的讀數(shù)機構(gòu)返回零點或基線的時間延長的現(xiàn)象。
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