A.一次反射波和始波
B.三次不同的反射波
C.二次反射波和始波
D.二次不同的反射波
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A.檢測(cè)結(jié)果重復(fù)性好
B.靈敏度高
C.探頭不容易磨損
D.耦合穩(wěn)定
A.除薄層耦合劑外不再有其他介質(zhì)的情形
B.用一定厚度的液體作為耦合劑的檢測(cè)方法
C.直接接觸的檢測(cè)方法
A.K式檢測(cè)
B.并列式檢測(cè)
C.串列式檢測(cè)
D.交叉式檢測(cè)
A.單探頭法
B.并列式檢測(cè)
C.串列式檢測(cè)
D.交叉式檢測(cè)
A.與探測(cè)面成某一角度的缺陷
B.與波束軸線垂直的片狀缺陷和立體狀缺陷
C.與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷
D.與探測(cè)面垂直的橫向缺陷
最新試題
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
單探頭法容易檢出（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。