一般情況下，地質(zhì)界線投影時(shí)，常用壁下、壁頂、坑頂3個(gè)投影繪圖點(diǎn)，這3個(gè)點(diǎn)基本上可以控制（）及坑頂兩個(gè)面上的地質(zhì)要素的基本形態(tài)。

槽、井、坑探取樣，通常為刻槽法，其斷面規(guī)格原則上要進(jìn)行試驗(yàn)確定。

槽、井、坑探取樣，一般根據(jù)礦化均勻程度多用10x5cm或10x3cm。

鉆探工程終孔后，應(yīng)按要求進(jìn)行封孔，并做好封孔記錄。一般要求封孔水泥柱進(jìn)入基巖長(zhǎng)度不應(yīng)小于5米，礦體所在部位、礦體頂板以上5米、頂板以下5米應(yīng)封孔。對(duì)封孔質(zhì)量進(jìn)行驗(yàn)證時(shí)，應(yīng)進(jìn)行透孔質(zhì)量檢查，透孔檢查率為5%~10%，若發(fā)現(xiàn)封孔質(zhì)量存在問(wèn)題，應(yīng)進(jìn)行重新封孔。

在地質(zhì)編錄中，坡角的上坡標(biāo)記為（）。

一般5級(jí)以下巖石選用硬質(zhì)合金鉆進(jìn)方式，6級(jí)以上巖石應(yīng)以金剛石鉆進(jìn)為主。

地質(zhì)樣品采樣方法分為取心法、刻槽法、剝層法、全巷法、連續(xù)打塊法、集束刻線法、方格法、撰取法等。

沿脈坑道中圈定礦體時(shí)，無(wú)礦地段的剔除標(biāo)準(zhǔn)一般為上下工程對(duì)應(yīng)時(shí)為10~15米，工程不對(duì)應(yīng)時(shí)為20~30米。

地質(zhì)編錄只包括現(xiàn)場(chǎng)編錄。

各探礦工程中，按礦化類型、夾石連續(xù)分段取樣，并控制礦體頂、底板界線。