A.采用較軟較細(xì)的鉛筆芯作模擬源
B.重新設(shè)置事件鎖定時(shí)間
C.傳感器重新耦合
D.定位布點(diǎn)錯(cuò)誤,重新布點(diǎn)
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A.2
B.4
C.6
D.8
A.A級
B.B級
C.C級
D.D級
A.A級
B.B級
C.C級
D.D級
A.1
B.2
C.3
D.4
A.計(jì)數(shù)
B.能量
C.幅度
D.以上都是
最新試題
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家()
為了提高射線照相對比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即()。
射線檢測最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。
在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測報(bào)告副本、檢測報(bào)告等及臺帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
二次打底焊接或重熔排除,無需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請手續(xù)。
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。
一次完整的兩面多層補(bǔ)焊,當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過一次X射線檢測,若反面還需打底,則無需X射線檢測。