A.時(shí)基線調(diào)節(jié)
B.工件溫度
C.探頭聲束偏離
D.工件表面狀態(tài)
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A.工件表面粗糙度
B.工件密度
C.工件內(nèi)應(yīng)力
D.工件溫度
A.缺陷定位的準(zhǔn)確度
B.缺陷測長的準(zhǔn)確度
C.缺陷測高的準(zhǔn)確度
D.缺陷定量的準(zhǔn)確度
A.各種類型
B.具有平行底面
C.上下表面不平行
D.無底波
A.半波高度法
B.端點(diǎn)6dB法
C.端點(diǎn)峰值法
D.絕對靈敏度法
A.實(shí)際長度
B.指示長度
C.測量長度
D.相對長度
最新試題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
超聲檢測對缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
在對缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
單探頭法容易檢出()。