A.反射波高隨粗糙度的增大而增加
B.無影響
C.反射波高隨粗糙度的增大而下降
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A.通電線圈
B.復(fù)合
C.直接通電
D.芯棒
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C.直接通電
D.芯棒
A.通電線圈
B.磁軛
C.交流
D.直流
A.通電線圈
B.觸頭
C.交流
D.直流
E.磁軛
A.潤濕角θ小于90°
B.潤濕角θ大于90°
C.潤濕角θ=90°
D.與潤滑角是無關(guān)的
最新試題
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼,電纜為無機(jī)物絕緣體高溫同軸電纜。
對于圓柱體而言,外圓徑向檢測實(shí)心圓柱體時(shí),入射點(diǎn)處的回波聲壓實(shí)際上由于圓柱面耦合不及平面,因而其回波高于平底面,會使定量誤差增加。
缺陷垂直時(shí),擴(kuò)散波束入射至缺陷時(shí)回波較高,而定位時(shí)就會誤認(rèn)為缺陷在軸線上,從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
爬波在自由表面的位移有垂直分量,但不是純粹的表面波。
儀器時(shí)基線調(diào)節(jié)比例時(shí),若回波前沿沒有對準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn),會使缺陷定位誤差增加。
對于橫波斜探頭而言,不同K值的探頭的靈敏度不同,因此探頭K值偏差也會影響缺陷的定量。
由于圓柱形工件有一定的曲率,直探頭與工件直接接觸時(shí),接觸面為一條很寬的條形區(qū)域,從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會產(chǎn)生強(qiáng)烈的聲束擴(kuò)散。
缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準(zhǔn)反射體聲壓之比。
儀器時(shí)基線比例一般在試塊上調(diào)節(jié),當(dāng)工件與試塊的聲速不同時(shí),儀器的時(shí)基線比例發(fā)生變化,影響缺陷定位精度。
電磁超聲探頭在工件的表層內(nèi)產(chǎn)生的渦流,在外加磁場的作用下,在工件中形成超聲波波源。