A.頻率
B.波長
C.速度
D.脈沖長度
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A.表面波法
B.斜射法
C.穿透法
D.直射法
A.直射法
B.斜射法
C.表面波法
D.上述三種都不對(duì)
A.縱波
B.切變波
C.橫波
D.上述三種的穿透力都相同
A.折射
B.擴(kuò)散
C.角度調(diào)整
D.反射
A.發(fā)散
B.擴(kuò)散
C.角度調(diào)整
D.反射
最新試題
測(cè)長法是根據(jù)測(cè)長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長度稱為缺陷的()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
儀器水平線性影響()。