A.鋯鈦酸鉛
B.石英
C.鈦酸鋇
D.鎳
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A.1.5mm
B.0.05mm
C.0.8mm
D.隨晶片直徑變化
A.小于縱波折射角
B.等于縱波折射表
C.大于縱波折射表
D.為零
A.空氣
B.水
C.鋁
D.不銹鋼
A.減小
B.保持不變
C.增大
D.隨波長(zhǎng)均勻變化
A.誰(shuí)與金屬的抗阻比
B.誰(shuí)與金屬的相對(duì)聲速
C.超聲波的頻率
D.水與金屬的密度比
最新試題
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
()是影響缺陷定量的因素。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。