A.缺陷的尺寸
B.缺陷的取向
C.缺陷的類(lèi)型
D.以上都是
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A.表面波檢測(cè)
B.斜聲束檢測(cè)
C.穿透法檢測(cè)
D.直聲束檢測(cè)
A.輸入聲波波長(zhǎng)的1/2
B.等于輸入聲波波長(zhǎng)
C.輸入聲波波長(zhǎng)的1/4
D.輸入聲波波長(zhǎng)的2倍
A.斜束檢測(cè)
B.磁致伸縮檢測(cè)
C.共振檢測(cè)
D.穿透式檢測(cè)
A.1MHz
B.2.25MHz
C.5MHz
D.10MHz
A.0.2s
B.1.6us
C.16ms
D.4x103s
最新試題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。