A.表面波檢測(cè)
B.斜聲束檢測(cè)
C.穿透法檢測(cè)
D.直聲束檢測(cè)
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A.輸入聲波波長(zhǎng)的1/2
B.等于輸入聲波波長(zhǎng)
C.輸入聲波波長(zhǎng)的1/4
D.輸入聲波波長(zhǎng)的2倍
A.斜束檢測(cè)
B.磁致伸縮檢測(cè)
C.共振檢測(cè)
D.穿透式檢測(cè)
A.1MHz
B.2.25MHz
C.5MHz
D.10MHz
A.0.2s
B.1.6us
C.16ms
D.4x103s
A.衰減
B.折射
C.聲束擴(kuò)散
D.飽和
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。