單項(xiàng)選擇題()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
A.當(dāng)量法
B.測長法
C.半波高度法
D.絕對靈敏度法
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1.單項(xiàng)選擇題缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
A.當(dāng)量
B.寬度
C.高度
D.長度
2.單項(xiàng)選擇題當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
A.密度
B.聲阻抗
C.晶粒度
D.表面粗糙度
3.單項(xiàng)選擇題利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
A.可不考慮檢測耦合差補(bǔ)償
B.適用于檢測的聲程小于等于3N
C.可不使用試塊
D.缺陷定量可采用計(jì)算法或AVG曲線法
4.單項(xiàng)選擇題利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
A.x〈3N
B.x≥N
C.x≥2N
D.x≥3N
5.單項(xiàng)選擇題底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
A.始波
B.界面回波
C.底面反射回波
D.缺陷反射回波
最新試題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
題型:單項(xiàng)選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
題型:單項(xiàng)選擇題
在對缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
題型:單項(xiàng)選擇題
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
題型:單項(xiàng)選擇題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
題型:單項(xiàng)選擇題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型:單項(xiàng)選擇題
儀器水平線性影響()。
題型:單項(xiàng)選擇題
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
題型:單項(xiàng)選擇題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型:單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
題型:單項(xiàng)選擇題