A.5%
B.10%
C.15%
D.20%
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.±5%
B.±10%
C.±15%
D.±20%
A.250mm2
B.400mm2
C.500mm2
D.625mm2
A.1%
B.0.5%
C.2%
D.5%
A.調(diào)整設(shè)備和檢測(cè)
B.記錄和分類檢測(cè)結(jié)果及報(bào)告檢測(cè)結(jié)果
C.質(zhì)量評(píng)級(jí)
D.A和B
A.6dB
B.-6dB
C.12dB
D.-12dB
最新試題
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
單探頭法容易檢出()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。