A.100mm/s
B.150mm/s
C.200mm/s
D.250mm/s
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A.最終熱處理之前
B.最終熱處理之后
C.熱處理前、后
D.以上都不是
A.15、2%
B.25、2%
C.15、3%
D.25、3%
A.測(cè)試距離-波幅當(dāng)量曲線
B.調(diào)整探傷靈敏度
C.對(duì)缺陷進(jìn)行定量
D.以上都是
A.25~500mm
B.50~500mm
C.100~500mm
D.25~250mm
A.25、50、75、100、150、200
B.50、75、100、150、200、250
C.50、100、150、200、250、300
D.25、50、100、150、200、250
最新試題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。