A.測(cè)試距離-波幅當(dāng)量曲線
B.調(diào)整探傷靈敏度
C.對(duì)缺陷進(jìn)行定量
D.以上都是
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.25~500mm
B.50~500mm
C.100~500mm
D.25~250mm
A.25、50、75、100、150、200
B.50、75、100、150、200、250
C.50、100、150、200、250、300
D.25、50、100、150、200、250
A.50、75、100、150、200
B.25、50、75、100、125
C.50、100、150、200、250
D.25、50、100、150、200
A.Ø1、2、3、4、5
B.Ø2、3、4、6、8
C.Ø2、3、4、6
D.Ø2、4、6、8
A.相互垂直
B.相互平行
C.相互交叉45°
D.以上都是
最新試題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
()是影響缺陷定量的因素。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
測(cè)長法是根據(jù)測(cè)長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長度稱為缺陷的()。
單探頭法容易檢出()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
儀器水平線性影響()。