A.探傷時(shí),在無(wú)缺陷部位必須保證底波出現(xiàn),并達(dá)到一定高度
B.無(wú)底波出現(xiàn),但缺陷波也末見(jiàn)到,則可斷定鋼板合格
C.底波衰減嚴(yán)重,雖無(wú)缺陷波,也不能當(dāng)成成品
D.只有缺陷波而無(wú)底波,說(shuō)明缺陷面積大于聲束截面
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A.必須保證可以順利進(jìn)行探測(cè)
B.清除銹斑和污物
C.表面應(yīng)達(dá)到軋制工藝所達(dá)到的平整度
D.上述條件都應(yīng)具備
A.缺陷越大,AVG曲線(xiàn)越適用
B.越接近探頭的區(qū)域,AVG曲線(xiàn)越準(zhǔn)確
C.從AVG曲線(xiàn)上確定的缺陷當(dāng)量與實(shí)際缺陷完全一致
D.在AVG曲線(xiàn)上,由于探頭附近的種種干擾,限制了這一距離內(nèi)的缺陷回波的辯認(rèn)或評(píng)定, 因而存在最小可測(cè)距離的限制
A.缺陷自身的形狀與人工缺陷不同
B.缺陷的方向有隨機(jī)性
C.缺陷的表面狀態(tài)及組成介質(zhì)與人工缺陷不同
D.上述原因全有
A.螢光屏上剛剛顯示出來(lái)
B.回波高度飽和
C.螢光屏滿(mǎn)高度的50%~80%
D.以上全都可以
A.取界面波與第一次底波間的聲程。
B.最后兩次底波間的聲程。
C.取底面回波次數(shù)愈多,測(cè)定結(jié)果的精度愈高。
D.取第三次與第四次底波間的聲程。
最新試題
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
儀器水平線(xiàn)性影響()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。