A.缺陷越大,AVG曲線越適用
B.越接近探頭的區(qū)域,AVG曲線越準確
C.從AVG曲線上確定的缺陷當量與實際缺陷完全一致
D.在AVG曲線上,由于探頭附近的種種干擾,限制了這一距離內(nèi)的缺陷回波的辯認或評定, 因而存在最小可測距離的限制
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A.缺陷自身的形狀與人工缺陷不同
B.缺陷的方向有隨機性
C.缺陷的表面狀態(tài)及組成介質(zhì)與人工缺陷不同
D.上述原因全有
A.螢光屏上剛剛顯示出來
B.回波高度飽和
C.螢光屏滿高度的50%~80%
D.以上全都可以
A.取界面波與第一次底波間的聲程。
B.最后兩次底波間的聲程。
C.取底面回波次數(shù)愈多,測定結(jié)果的精度愈高。
D.取第三次與第四次底波間的聲程。
A.發(fā)射脈沖寬度
B.放大器阻塞時間
C.探頭性能及儀器調(diào)整
D.以上都是
A.探頭靈敏度不夠
B.儀器水平線性的偏差
C.儀器垂直線性的偏差
D.耦合劑使用不當
最新試題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
()可以對管路、管道進行長距離檢測。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
利用底波計算法進行靈敏度校準時,適用的工件厚度為()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。