A.工件的厚度
B.探頭的長(zhǎng)度與寬度的比值
C.斜探頭入射點(diǎn)至反射點(diǎn)的水平距離與相應(yīng)深度的比值
D.入射點(diǎn)至反射點(diǎn)的距離
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A.4倍
B.6dB
C.12dB
D.9dB
A.3倍
B.12dB
C.24dB
D.以上三個(gè)答案都不對(duì)
大平底的反射聲壓公式為(),平底孔的反射聲壓公式為(),球孔的反射聲壓公式為(),長(zhǎng)橫通的反射聲壓公式為()。
式中d——橫通孔或球孔直徑。
As——晶片面積。
S——平底孔面積。
A.磁致伸縮原理
B.壓電原理
C.波型轉(zhuǎn)換原理
D.光電效應(yīng)
最新試題
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
單探頭法容易檢出()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。