超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。

單探頭法容易檢出（）。

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。

超聲檢測儀盲區(qū)是指（）。

檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。

用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。

儀器水平線性影響（）。

（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。